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EMC診斷分析系統(tǒng)
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抗干擾開發(fā)系統(tǒng)
更詳細(xì)的產(chǎn)品分類
產(chǎn)品圖片
產(chǎn)品名稱/型號
產(chǎn)品簡單介紹
抗干擾開發(fā)系統(tǒng)
E1
大部分電子產(chǎn)品需要通過電快速瞬變脈沖群（Burst）和靜電放電（ESD）等項目的標(biāo)準(zhǔn)測試。測試時，把干擾脈沖從設(shè)備外部耦合到內(nèi)部，同時監(jiān)視設(shè)備的工作狀態(tài)。如果設(shè)備沒有通過這些標(biāo)準(zhǔn)的測試，測試本身幾乎不能提供任何如何解決問題的信息。 E1抗干擾開發(fā)系統(tǒng)能采用不同的方式，向電子模塊直接注入干擾電流、電場和磁場，在設(shè)備內(nèi)部仿真干擾的過程，以定位電路板上電磁薄弱點，理解耦合機(jī)理，完成優(yōu)化后的設(shè)計修改。 E1抗干擾開發(fā)系統(tǒng)不能按照某個標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行兼容性測試。所以建議先對被測物進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)的抗干擾測試（必要的話，在EMC實驗室進(jìn)行測試），然后對可能的故障原因進(jìn)行分析，再利用E1抗干擾開發(fā)系統(tǒng)來找出更多的故障原因，并利用E1在產(chǎn)品開發(fā)場地進(jìn)行設(shè)計修改的評估。
E1 磁場探頭
S2 set
電子設(shè)備和電子元件在干擾作用下會產(chǎn)生快速瞬態(tài)脈沖磁場，E1 磁場探頭 S2 set探頭組中包含的有源和無源磁場探頭可以無反饋地測量這些快速瞬態(tài)脈沖磁場。借此就可以分析爆沖或ESD-過程，爆沖或ESD會對受測物產(chǎn)生干擾。磁場探頭通過光纖連接把測得的信號傳到SGZ 21的光學(xué)輸入口。E1 磁場探頭 S2 set探頭組只能與脈沖群發(fā)生器SGZ21 連接使用。
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